Un Algoritmo de Muestreo exacto para BRDFs Arbitrarias
| dc.contributor.author | Montes, R. | en_US |
| dc.contributor.author | Urena, C. | en_US |
| dc.contributor.author | Lastra, M. | en_US |
| dc.contributor.author | Garcia, R. | en_US |
| dc.contributor.editor | Luis Matey and Juan Carlos Torres | en_US |
| dc.date.accessioned | 2014-01-26T16:00:17Z | |
| dc.date.available | 2014-01-26T16:00:17Z | |
| dc.date.issued | 2008 | en_US |
| dc.description.abstract | Este trabajo presenta un algoritmo para el muestreo eficiente y exacto de BRDF genéricas, esto es, apto para cualquiera de los modelos de BRDFs analíticos o adquiridos de la literatura de informática gráfica. Nuestro objetivo principal consiste en proporcionar una función de probabilidad utilizable en algoritmos de iluminación global basados en métodos de Monte-Carlo, que permita un muestreo por importancias proporcional al producto de la función BRDF y un termino coseno. Mediante la subdivisión adaptativa de la BRDF en el disco unidad, obtenemos una estructura jerárquica o quadtree que nos permite aplicar un muestreo por rechazo optimizado en los nodos. El número medio de intentos en el muestreo está acotado y es parámetro de la estructura utilizada. El método se aplica al muestreo de cualquier modelo de BRDF sin necesidad de guía por parte del usuario | en_US |
| dc.description.seriesinformation | CEIG 08 - Congreso Espanol de Informatica Grafica | en_US |
| dc.identifier.isbn | 978-3-905673-69-2 | en_US |
| dc.identifier.uri | https://doi.org/10.2312/LocalChapterEvents/CEIG/CEIG08/199-208 | en_US |
| dc.publisher | The Eurographics Association | en_US |
| dc.subject | Categories and Subject Descriptors (according to ACM CCS): I.3.7 [Computer Graphics]: Three-Dimensional Graphics and Realism. Color, shading, shadowing, and texture | en_US |
| dc.title | Un Algoritmo de Muestreo exacto para BRDFs Arbitrarias | en_US |
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